Проведение контроля

Нанесение магнитного индикатора

Магнитный индикатор на контролируемую намагниченную поверхность наносится сухим или мокрым способом в виде порошка или суспензии соответственно.

При сухом способе магнитный порошок напыляется на контролируемую поверхность с одновременным удалением его с бездефектной поверхности слабым потоком воздуха или другим способом.

При мокром способе магнитная суспензия наносится на контролируемую поверхность путем погружения в ванну, распыления или полива слабой струей, не смывающей осевший порошок над несплошностью, с обязательным стеканием ее с поверхности. Для стекания магнитной суспензии поверхность должна быть наклонена.

Магнитный индикатор на контролируемую поверхность при контроле способом приложенного поля наносится одновременно с намагничиванием объекта контроля. Намагничивание прекращается после стекания с контролируемой поверхности основной массы суспензии. При этом под стеканием основной массы суспензии понимается состояние, при котором дальнейшее стекание не изменяет картины отложения порошка над дефектом. Осмотр контролируемой поверхности проводится после прекращения намагничивания.

Наносится магнитный индикатор на контролируемую поверхность при контроле способом остаточной намагниченности после снятия намагничивающего поля, но не позднее чем через 1 ч. Осмотр контролируемой поверхности проводится после стекания основной массы суспензии.

При контроле коротких изделий в продольном поле разомкнутой магнитной

цепи, магнитный индикатор наносится до разъема объектов контроля. Осмотр

допускается проводить по отдельности, после стекания основной массы суспензии.

В зависимости от цвета (фона) контролируемой поверхности следует применять магнитные порошки, создающие наибольшую контрастность изображения несплошностей (например люминесцентные).

Результаты контроля оцениваются по наличию на контролируемой поверхности индикаторного следа в виде четкого плотного валика магнитного порошка, видимого невооруженным глазом или с использованием лупы до 7-кратного увеличения и воспроизводимого каждый раз при повторном нанесении магнитной суспензии или порошка, без учета принадлежности его к поверхностной или подповерхностной несплошности. При этом длина индикаторного следа линейной несплошности равна протяженности выявленной несплошности.

Индикаторные рисунки, образующиеся на дефектах типа нарушений сплошности материала, а также в местах резких изменений сечения объектов контроля, магнитных свойств материала и т.п., имеют следующие характерные особенности:

• плоскостные дефекты (трещины, расслоения, несплавления) проявляются в виде удлиненных индикаторных рисунков;
• объемные дефекты (поры, раковины, включения) образуют округлые индикаторные рисунки;
• подповерхностные дефекты обычно дают нечеткое осаждение порошка;
• резкие переходы от одного сечения контролируемого изделия к другому образуют размытые, нечеткие осаждения;
• резкие местные изменения магнитных свойств металла (например, по границе зоны термического влияния или по границе "металл шва - основной металл") и т.п. вызывают размытые, нечеткие осаждения.

Для идентификации причин осаждения магнитного порошка на поверхности объектов контроля рекомендуется применять фотографии характерных индикаторных рисунков (включая и характерные для конкретных объектов осаждения по ложным "дефектам"). При массовых случаях осаждения порошка по структурной или магнитной неоднородности материала магнитопорошковый контроль объекта следует заменить другим методом неразрушающего контроля. Если осаждения порошка по структурной неоднородности не носят массового характера, но возникают затруднения с расшифровкой этих осаждений, то магнитопорошковый контроль необходимо продублировать каким-либо другим методом контроля.

Каждая выявленная несплошность должна быть отмечена краской, цветным маркером или другими способами.

Освещенность контролируемой поверхности при использовании черных и цветных магнитных порошков должна быть не менее 1000 лк. При этом следует применять комбинированное освещение (общее и местное).

При проведении контроля в затемненном помещении с использованием люминесцентных порошков ультрафиолетовая облученность контролируемой поверхности должна быть не менее 1500 мкВт/см² .

Длина волны ультрафиолетового излучения должна быть в диапазоне от 315 до 400 нм.

При проведении контроля следует избегать образования ложных индикаций.

К ложным индикаторным следам относятся:

• индикации, вызванные контактом с другим ферромагнитным материалом или магнитом, исчезающие после размагничивания;
• размытые нечеткие индикации, вызванные переходом одного сечения изделия к другому;
• размытые нечеткие индикации, вызванные местными изменениями магнитных свойств металла (например, по границам сварных швов);
• индикации в виде широких групп мелких и параллельных осаждений порошка, вызванные избыточным намагничивающим полем.